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可靠性验证
- 车载集成电路可靠性验证
- · 车电零部件可靠性验证(AEC)· 板阶 (BLR) 车电可靠性验证· 车用系统/PCB可靠度验证· 可靠度板阶恒加速试验· 间歇工作寿命试验(IOL)· 可靠度外形尺寸试验· 可靠度共面性试验
- 环境类试验
- · 高低温· 恒温恒湿· 冷热冲击· HALT试验· HASS试验· 快速温变· 温度循环· UV紫外老化· 氙灯老化· 水冷测试· 高空低气压· 交变湿热
- 机械类试验
- · 拉力试验· 芯片强度试验· 高应变率-振动试验· 低应变率-板弯/弯曲试验· 高应变率-机械冲击试验· 芯片封装完整性-封装打线强度试验· 芯片封装完整性-封装体完整性测试· 三综合(温度、湿度、振动)· 四综合(温度、湿度、振动、高度)· 自由跌落· 纸箱抗压
- 腐蚀类试验
- · 气体腐蚀· 盐雾· 臭氧老化· 耐试剂试验
- IP防水/防尘试验
- · IP防水等级(IP00~IP69K)· 冰水冲击· 浸水试验· JIS/TSC3000G/TSC0511G防水测试· IP防尘等级(IP00~IP69)
HALT试验(Highly accelerated life test)
描述:
HALT(高加速寿命测试):Highly accelerated life test是一种发现设计缺陷的工序,它通过设置逐级递增的加速环境应力,来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点,而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进,从而达到提升可靠性的目的,较大的特点是设置样品设计运行限的环境应力,从而从暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。
目的:
在HALT试验中可找到被测物在温度及振动应力下的可操作界限与破坏界限;为开发人员改进产品设计方案提供依据,以对产品设计缺陷进行及时的修正;并为HASS的应力类型和应力量级的选择提供依据。
作用:
快速发现产品设计、制程上的薄弱点;帮助提高产品设计的欲度;有效地提高产品的可靠性;节省设计时间和费用;帮助排除产品设计的问题;帮助评估产品设计的变更。
原理:
测试没有通过与不通过的评定标准;所有的样品需要测试到失效为止;测试中,样品需要被实时监测;测试中发现的任何问题都需要进行分析,找出失效原因;该测试结果不能用来量化产品的可靠性。
应用范围:
电子、元器件、电路板等电工电子产品零部件。
试验项目: