电子设备能否可靠地工作的基础是电子元器件能否可靠地工作。如果将早期失效的元器件装上整机、设备，就会使得整机、设备的早期失效故障率大幅度增加，其可靠性不能满足要求，而且还要付出极大的代价来维修。因此，应该在电子元器件装上整机、设备之前，就要设法把具有早期失效的元器件尽可能地加以排除，为此就要对元器件进行筛选。
电子元器件测试筛选一般要求：1.不改变元器件固有可靠性，非破坏性试验；2.对批次产品进行100%筛选；3.剔除早期失效品，提高元器件使用可靠性；4. 筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。
电子元器件测试筛选涉及到大量种类的仪器设备，以下为电子元器件测试筛选的相关测试项目及检测仪器设备清单：
测试项目 | 检测仪器设备 |
电测试 | 阻抗分析仪 |
高阻计 | |
耐压测试仪 | |
半导体参数测试系统 | |
高精度图示仪 | |
网络分析仪 | |
信号发生器 | |
频谱分析仪 | |
数字集成电路测试系统 | |
模拟集成电路测试系统 | |
继电器测试系统 | |
LCR、电阻计等 | |
电源模块测试系统 | |
环境、应力筛选 | 高低温试验箱：热循环试验 |
振动台：振动试验 | |
恒定加速度试验台：恒定加速度试验 | |
可编程电源：电压、功率老炼试验 | |
电子负载：电流、功率老炼 | |
颗粒碰撞噪声测试仪 | |
寿命/老化/老炼试验 | 单片集成电路高温动态老炼系统 |
混合集成电路高温动态老炼系统 | |
电源模块高温老炼检测系统 | |
晶体振荡器高温老化测试系统 | |
分立器件综合老炼检测系统 | |
分立器件间歇寿命试验系统 | |
电容器高温老炼检测系统 | |
大功率晶体管老炼检测系统 | |
继电器低电平寿命筛选系统 | |
继电器中电平寿命筛选系统 | |
继电器高电平寿命筛选系统 | |
外观检查 | 光学显微镜 |
金相显微镜 | |
密封检测 | 氦质谱检漏仪 |
碳氟化合物粗检漏仪 | |
X射线照相 | X-RAY透射系统 |
扫描声学显微镜检查 | 声扫检测设备 |
超声扫描显微镜 |
